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如何选择超声相控阵无损检测扫查方式？
超声相控阵扫查方式的选择需结合工件形状、检测需求（如缺陷类型、检测范围）及设备条件，常见方式及适用场景如下：
线性扫查（Linear Scan）
原理：探头沿直线移动，波束方向不变（或按固定角度聚焦），覆盖线性区域。
适用场景：平板、管道轴向等规则平面检测，适合检测沿长度方向分布的缺陷（如焊缝纵向裂纹）。
扇形扫查（Sector Scan）
原理：探头固定不动，通过电子控制波束在一定角度范围内（如 - 30°~+30°）连续偏转，形成扇形检测区域。
适用场景：曲面工件（如管道环缝、弯头）、复杂几何结构（如焊缝根部），可覆盖多角度缺陷，尤其适合检测垂直或倾斜于表面的缺陷。
复合扫查（Combined Scan）
原理：结合线性扫查与扇形扫查，探头移动的同时波束多角度偏转，兼顾大范围覆盖与多角度检测。
适用场景：大型复杂工件（如压力容器、厚壁锻件），需全面检测不同方向、不同深度缺陷时使用。
动态聚焦扫查
原理：扫查过程中实时调整波束聚焦深度，确保不同深度的缺陷均处于最佳聚焦状态，提高信号分辨率。
适用场景：厚壁工件检测（如厚钢板、管道），可提升深层缺陷的检出精度。
选择时需优先考虑：工件几何特征（平面 / 曲面、厚度）、缺陷可能的方向（如横向 / 纵向裂纹）、检测效率要求（自动化扫查 vs 手动扫查）
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